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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心顯微測(cè)量?jī)x掃描電鏡CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡
材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率成像,清晰呈現(xiàn)樣品表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施,能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對(duì)電鏡的干擾,并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能,消除場(chǎng)地因素對(duì)電鏡的影響。

產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
更新時(shí)間:2025-12-03
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:64
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中圖儀器CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率成像,清晰呈現(xiàn)樣品表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。在材料科學(xué)中解析材料表面形貌與內(nèi)部結(jié)構(gòu);在工業(yè)制造領(lǐng)域中為精密加工質(zhì)量控制提供支撐;在生命科學(xué)、納米技術(shù)、地球科學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域,均成為科學(xué)研究與技術(shù)創(chuàng)新的核心工具。

材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡


一、產(chǎn)品性能

1.高抗振防磁性能

該系列臺(tái)式電鏡采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施,能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對(duì)電鏡的干擾,并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能,消除場(chǎng)地因素對(duì)電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計(jì)的高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)來消除外界振動(dòng)對(duì)電鏡的影響,即使是在高放大倍數(shù)下成像,用戶也不用擔(dān)心環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡產(chǎn)生的干擾。

2.選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求,可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時(shí)的倉內(nèi)真空度(倉內(nèi)真空度低可達(dá)100Pa),以滿足不同類型樣品的觀測(cè)需求。

3.高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比,使用戶在快速掃描時(shí)也能獲取到充足的信號(hào)。即使針對(duì)微弱信號(hào),CEM3000系列臺(tái)式電鏡搭載的處理算法亦可將信號(hào)從背底中進(jìn)行高效剝離,確保成像質(zhì)量。

4.豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求,定制了自動(dòng)化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等選配功能。可根據(jù)用戶需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)。

材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡

二、應(yīng)用領(lǐng)域

1.工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量控制:

(1)PCB/PCBA缺陷分析: 快速定位焊點(diǎn)虛焊、橋連、裂紋,分析線路缺陷。

(2)金屬材料斷口分析: 清晰判斷斷裂性質(zhì),為產(chǎn)品改進(jìn)提供關(guān)鍵依據(jù)。

(3)涂層/鍍層檢測(cè): 直觀評(píng)估涂層均勻性、厚度及結(jié)合力。

2.科學(xué)研究與高校教育:

(1)材料研發(fā): 觀察納米材料、復(fù)合材料、多孔材料的微觀形貌。

(2)生命科學(xué): 直接觀察昆蟲、植物、細(xì)胞等非導(dǎo)電生物樣品。

(3)教學(xué)演示: 替代光學(xué)顯微鏡,讓學(xué)生接觸科研設(shè)備,激發(fā)科研興趣。

3.地質(zhì)考古與法醫(yī)鑒定:

(1)礦物鑒定:觀察礦物的微觀形貌、解理、共生關(guān)系,輔助確定礦物類型。

(2)巖心分析:分析巖石的孔隙結(jié)構(gòu)、裂隙發(fā)育情況,對(duì)石油、天然氣勘探非常重要。

(3)微體古生物學(xué):觀察有孔蟲、花粉、孢子等微體化石,用于地質(zhì)定年和古環(huán)境重建。

(4)考古文物分析:分析陶器、玉器、金屬文物的制作工藝、腐蝕產(chǎn)物和殘留物。


三、應(yīng)用案例

材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡

注:產(chǎn)品參數(shù)與配置可能因技術(shù)升級(jí)調(diào)整,具體以實(shí)際溝通為準(zhǔn)。

CEM3000材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀測(cè)掃描電鏡一鍵式智能操作, 抽真空、圖像優(yōu)化全自動(dòng)完成,無需專業(yè)背景,普通技術(shù)員經(jīng)短暫培訓(xùn)即可獨(dú)立操作。點(diǎn)擊咨詢,免費(fèi)獲取高倍檢測(cè)技術(shù)方案+現(xiàn)場(chǎng)樣品測(cè)試資格+機(jī)型定制建議,解鎖復(fù)雜環(huán)境下高倍檢測(cè)的高效新方式!

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